元素分析,材料分析,材质分析

用于元素分析的高等级清洁度分析系统:
光镜和电镜-能谱联合分析, 测量过程, 光谱和合金定量

JOMESA PSE: 测量流程



专用滤膜托架 - 在JOMESA HFD光镜上进行定位分析	专用滤膜托架 - 在JOMESA PSE的压电扫描台上定位分析	有玻璃盖保护滤膜托架 - 在传递过程的"等待"阶段
使用JOMESA HFD光学显微镜和 JOMESA PSE扫描电镜及能谱仪（SEM-EDS）扫描同一张滤膜需要使用专门设计的滤膜托架。鼓式滤膜托架通过夹紧环将滤膜固定，接着位于滤膜下方边缘处的涨紧环向上移动将滤膜绷紧，形成类似鼓面的张力机制。平整的滤膜可确保JOMESA HFD仅需几分钟即可完成自动分析。并将颗粒区分为金属、非金属和纤维三类，将颗粒以粒径等级进行统计归类。在此过程中，可选择有兴趣的颗粒进行SEM-EDS分析。结果数据集会保存到数据库中。	在光学显微镜分析完成后，将滤膜托架转移到JOMESA PSE上。 HFD数据库会在PSE电脑上自动打开并自动定位到之前被选中的颗粒位置。被选中的颗粒的HFD图像和SEM实时图像，会被一同呈现在电脑屏幕上。	滤膜在过程中可能会被静置，此时可使用配套的玻璃盖，来保护滤膜托架中的滤膜不受落尘及周边环境因素的污染。

SEM-EDS分析时没有颗粒数量和尺寸的限制。每一个被分析颗粒的光谱数据都会完整记录下来可用于日后重新分析。