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用于元素分析的高等级清洁度分析系统:
光镜和电镜-能谱联合分析, 测量过程, 光谱与合金定量

JOMESA PSE: 使用 SEM-EDS 进行元素分析




JOMESA HFD (长景深)



光学显微镜滤膜分析系统(例如JOMESA HFD型分析系统) 可快速全自动滤膜扫描、便捷地进行颗粒计数与排序,并对感兴趣的的关键性颗粒进行主动识别。

扫描电子显微镜 (SEM) 因其能够获取表层剖面信息,拥有长景深和高分辨率,因此能获得比光学显微系统更精细的图像。

坐标自动传输功能则可以将“感兴趣”的颗粒可在非常短的时间内在两台设备间联动定位并进行分析。

根据集成的X射线能量色散谱探测仪(检测能谱仪、EDX),可测定元素的组成。


JOMESA PSE (元素精密扫描系统)


最大金属颗粒 (光镜成像)


最大非金属颗粒 (光镜成像)


最大金属颗粒 (SEM细节图)


最大非金属颗粒 (SEM成像)